光熱弱吸收測量儀通過泵浦光與探測光的協(xié)同作用，實現(xiàn)材料微弱吸收的精準探測。其工作原理：

　　光熱透鏡法：當強激光照射到樣品上時，樣品吸收激光能量并將其轉(zhuǎn)化為熱能，導致樣品本身及周圍介質(zhì)的溫度升高，進而引起折射率的變化，使得透鏡的焦距發(fā)生改變，產(chǎn)生類似透鏡的效果。通過測量探測光束經(jīng)過樣品后的光強變化或光束畸變程度，來確定樣品的弱吸收特性。

　　光熱偏轉(zhuǎn)法：強激光照射下，材料內(nèi)部因吸收熱能產(chǎn)生折射率梯度現(xiàn)象(熱透鏡效應)，當一束探測光經(jīng)過 “熱透鏡” 效應區(qū)域時會發(fā)生位置偏移，利用 PSD 位移傳感器測量其位置偏移量，從而計算出樣品的吸收系數(shù)。

　　光熱弱吸收測量儀的應用：

　　光學材料研究：用于評估激光晶體、光學玻璃、光學薄膜等材料的弱吸收特性，為材料的研發(fā)、篩選和優(yōu)化提供重要依據(jù)，有助于提高光學材料的質(zhì)量和性能，滿足高能激光系統(tǒng)、光通信等領域的需求。

　　激光技術：在高功率激光器的設計和制造中，測量光學元件的弱吸收，對于評估激光器的性能、穩(wěn)定性和抗激光損傷能力至關重要，有助于優(yōu)化激光器的結(jié)構(gòu)和參數(shù)，提高激光器的輸出功率和光束質(zhì)量。

　　半導體行業(yè)：可用于測量半導體材料和器件的光吸收特性，研究半導體材料的光學性質(zhì)、雜質(zhì)濃度、缺陷等，對于半導體器件的研發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制具有重要意義。